KB番号:068
概要説明:しゅう動による剥離、脱落
ストレス大分類:応力
ストレス小分類:しゅう動
故障メカニズム大分類:エロージョン?
故障メカニズム小分類:
故障フェーズⅠ:気泡の崩壊、流体の衝突
故障フェーズⅡ:表面損傷(磨耗)
故障モード:剥離、脱落
アイテム:
故障の発生原理:
故障モードの検出:SEM?
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
主な業界・分野:
抑制対策(再発防止策):
抑制対策(評価基準):
備考: