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概要説明:腐食性ガス+電界によるAgの短絡
ストレス大分類:湿度+電界
ストレス小分類:腐食性ガス+電界
故障メカニズム大分類:拡散
故障メカニズム小分類:毛髪銀
故障フェーズⅠ:銀イオンと電子の接触
故障フェーズⅡ:銀の生成
故障モード:短絡
アイテム:Ag
故障の発生原理:
故障モードの検出:SEM?
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
主な業界・分野:電子デバイス
抑制対策(再発防止策):
抑制対策(評価基準):
備考: