シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

KB番号：102

概要説明：湿度＋電界によるＢｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ａｇの短絡、絶縁不良

ストレス大分類：湿度＋電界

ストレス小分類：湿度＋電界

故障メカニズム大分類：イオンマイグレーション

故障メカニズム小分類：

故障フェーズⅠ：電極間隔小

故障フェーズⅡ：

故障モード：短絡、絶縁不良

アイテム：Ｂｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｚｎ、Ａｇ

故障の発生原理：(今日、以下の2つの面からの研究が進められている　・質量輸送問題、　・凝固理論の展開)

故障モードの検出：SEM?

主な業界・分野：電子デバイス

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：