シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

KB番号：111

概要説明：高電圧＋時間による集積回路の絶縁破壊

ストレス大分類：電界

ストレス小分類：高電圧＋時間

故障メカニズム大分類：ＴＤＤＢ

故障メカニズム小分類：

故障フェーズⅠ：酸化膜の薄膜化

故障フェーズⅡ：

故障モード：絶縁破壊

アイテム：集積回路

故障の発生原理：定性的なメカニズムとして、以下の2つがあげられている。　・正電荷起因モデル　・電子およびホールトラップモデル

故障モードの検出：SEM?

主な業界・分野：電子デバイス、高分子材料、電力

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：