シンビオ社会研究会 原子力WEB教材

KB番号：115

概要説明：高電圧による半導体内部の接触部の発熱、発火

ストレス大分類：電界

ストレス小分類：高電圧

故障メカニズム大分類：導電性発熱物の生成

故障メカニズム小分類：亜酸化銅増殖現象

故障フェーズⅠ：亜酸化銅の発生

故障フェーズⅡ：電子雪崩による高温

故障モード：発熱、発火

アイテム：半導体内部の接触部

故障の発生原理：

故障モードの検出：SEM?

主な業界・分野：電子デバイス、高分子材料、電力

抑制対策(再発防止策)：

抑制対策(評価基準)：

備考：