KB番号/117高電圧によるW、Niの絶縁物の生成
KB番号:117
概要説明:高電圧によるW、Niの絶縁物の生成
ストレス大分類:電界
ストレス小分類:高電圧
故障メカニズム大分類:高温酸化
故障メカニズム小分類:
故障フェーズⅠ:材料酸化
故障フェーズⅡ:接触抵抗の増加増大
故障モード:絶縁物の生成
アイテム:W、Ni
故障の発生原理:
故障モードの検出:
主な業界・分野:電子デバイス、高分子材料、電力
抑制対策(再発防止策):
抑制対策(評価基準):
備考:
Link: tag/電子デバイス、高分子材料、電力(5321d)
tag/電界(5321d)
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:31:49 (5322d)