KB番号/124閉開接点＋アークによるＳｉ化合物の雑音、接触不良
KB番号：124
概要説明：閉開接点＋アークによるＳｉ化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)の雑音、接触不良
ストレス大分類：電界
ストレス小分類：閉開接点＋アーク
故障メカニズム大分類：Ｓｉ（シリカ)汚染
故障メカニズム小分類：
故障フェーズⅠ：
故障フェーズⅡ：
故障モード：雑音、接触不良
アイテム：Ｓｉ化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)
故障の発生原理：
故障モードの検出：偏光光学顕微鏡、ＳＥＭ、ＡＦＭ
主な業界・分野：
抑制対策(再発防止策)：
抑制対策(評価基準)：
備考：
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:32:29 (5113d)