KB番号/124閉開接点+アークによるSi化合物の雑音、接触不良
KB番号:124
概要説明:閉開接点+アークによるSi化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)の雑音、接触不良
ストレス大分類:電界
ストレス小分類:閉開接点+アーク
故障メカニズム大分類:Si(シリカ)汚染
故障メカニズム小分類:
故障フェーズⅠ:
故障フェーズⅡ:
故障モード:雑音、接触不良
アイテム:Si化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)
故障の発生原理:
故障モードの検出:偏光光学顕微鏡、SEM、AFM
主な業界・分野:
抑制対策(再発防止策):
抑制対策(評価基準):
備考:
Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:32:29 (5322d)