シンビオ社会研究会 原子力WEB教材


KB番号/124閉開接点+アークによるSi化合物の雑音、接触不良

KB番号:124

概要説明:閉開接点+アークによるSi化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)の雑音、接触不良

ストレス大分類:電界

ストレス小分類:閉開接点+アーク

故障メカニズム大分類:Si(シリカ)汚染

故障メカニズム小分類:

故障フェーズⅠ:

故障フェーズⅡ:

故障モード:雑音、接触不良

アイテム:Si化合物(オイル、グリース、ゴム、離形材、研磨剤)

故障の発生原理:

故障モードの検出:偏光光学顕微鏡、SEM、AFM

主な業界・分野:

抑制対策(再発防止策):

抑制対策(評価基準):

備考:

Last-modified: 2010-04-29 (木) 19:32:29 (5322d)