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KB番号/157高電圧によるCTV,レーダー、電子レンジなど半導体メモリの放射線障害
(5321d)
KB番号/158高電圧による半導体ICメモリ、MOSメモリの一過性の誤動作
(5321d)
KB番号/159中間子照射による鋼材の材料脆性
(5321d)
KB番号/160日光照射によるプラスチック材料の変色、劣化、破損
(5321d)
KB番号/161イオン照射による強度劣化
(5321d)