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''KB番号:''105
''概要説明:''妨害電波(内部、外部)による入力、接地回路シールド不良の誤動作、電力破壊、電圧破壊
''ストレス大分類:''電界
''ストレス小分類:''妨害電波(内部、外部)
''故障メカニズム大分類:''パルス
''故障メカニズム小分類:''妨害電波
''故障フェーズⅠ:''誤動作、電力破壊、電圧破壊
''故障フェーズⅡ:''
''故障モード:''
''アイテム:''入力、接地回路シールド不良
''故障の発生原理:''
''故障モードの検出:''SEM
''故障モードの検出:''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野:''電子デバイス、高分子材料、電力
''抑制対策(再発防止策):''
''抑制対策(評価基準):''
''備考:''
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#set_tags(妨害電波(内部、外部)による入力、接地回路シールド不良の誤動作、電力破壊、電圧破壊,電界,妨害電波(内部、外部),パルス,妨害電波,誤動作、電力破壊、電圧破壊,,,入力、接地回路シールド不良,,SEM,電子デバイス、高分子材料、電力)
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