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''KB番号：''028
''概要説明：''高湿＋高温によるステンレス鋼、銅、亜鉛などの割れ、き裂、破断
''ストレス大分類：''温度＋湿度
''ストレス小分類：''高湿＋高温
''故障メカニズム大分類：''腐食
''故障メカニズム小分類：''局部腐食
''故障フェーズⅠ：''ピットの生成
''故障フェーズⅡ：''電池作用による促進
''故障モード：''割れ、き裂、破断
''アイテム：''ステンレス鋼、銅、亜鉛など
''故障の発生原理：''熱力学の第2法則
''故障モードの検出：''SEM
''故障モードの検出：''[[SEM>tag/sem]]
#region(SEM)
SEM
走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)
#endregion
''主な業界・分野：''
''抑制対策(再発防止策)：''
''抑制対策(評価基準)：''
''備考：''
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