''KB番号：''117 ''概要説明：''高電圧によるＷ、Ｎｉの絶縁物の生成 ''ストレス大分類：''電界 ''ストレス小分類：''高電圧 ''故障メカニズム大分類：''高温酸化 ''故障メカニズム小分類：'' ''故障フェーズⅠ：''材料酸化 ''故障フェーズⅡ：''接触抵抗の増加増大 ''故障モード：''絶縁物の生成 ''アイテム：''Ｗ、Ｎｉ ''故障の発生原理：'' ''故障モードの検出：'' ''主な業界・分野：''電子デバイス、高分子材料、電力 ''抑制対策(再発防止策)：''(再発防止策) ''抑制対策(再発防止策)：'' ''抑制対策(評価基準)：'' ''備考：'' #generate_tags() #set_tags(高電圧によるＷ、Ｎｉの絶縁物の生成,電界,高電圧,高温酸化,,材料酸化,接触抵抗の増加増大,絶縁物の生成,Ｗ、Ｎｉ,,,電子デバイス、高分子材料、電力)